浅述偏光测量显微镜的调节与校正方法
更新时间：2022-09-16 点击次数：569次
偏光测量显微镜用于检测具有双折射性的物质，如纤维丝、纺锤体、胶原、染色体等等。高聚物在熔融和无定形时呈现光学各向同性，即各方向上折射率相同，*不能通过检偏片，因而视野全暗。当高聚物存在晶态或取向时，光学性质随方向而异，产生双折射，视野明亮，可以观察到结构形态。在高聚物多相体系研究中，对于共混和共聚，如果其中有一相可以结晶，可用于偏光显微镜直接研究其多相体系的结构。
偏光测量显微镜的调节与校正：
选择并装配物镜和目镜：按需要选择物镜和目镜，在安装目镜时注意其内十字丝的方向。
调节照明：打开光源灯，调节变压器旋扭，直到亮度适度为止。
物镜中心的校正：物台旋转轴、物镜中轴、镜筒中轴、目镜中轴必须保持在一条直线上，偏光显微镜才能正常使用，目前有关物镜中心的校正将由指导教师来完成。
焦准：将薄片置于物台上，在教师指导下，用粗调或微调调焦至物象清晰。在此过程中，千万注意，物镜前透镜不要与薄片接触，以免打碎薄片或损坏镜头。
下偏光镜的检查：下偏光镜的振动为东西向。当黑云母的解理平行下偏光镜的振动方向时颜色最深，据此可以检查、调节下偏光镜的振动方向。
上偏光镜的检查：移去薄片，视域黑暗，说明上偏光振动方向与下偏光振动方向互相垂直。否则，需要进行调节，调节工作由指导教师来完成。
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