技术文章您的位置:网站首页 >技术文章 >浅述偏光测量显微镜的调节与校正方法

浅述偏光测量显微镜的调节与校正方法

发布时间:2022-09-16   点击次数:19次
  偏光测量显微镜用于检测具有双折射性的物质,如纤维丝、纺锤体、胶原、染色体等等。高聚物在熔融和无定形时呈现光学各向同性,即各方向上折射率相同,完全不能通过检偏片,因而视野全暗。当高聚物存在晶态或取向时,光学性质随方向而异,产生双折射,视野明亮,可以观察到结构形态。在高聚物多相体系研究中,对于共混和共聚,如果其中有一相可以结晶,可用于偏光显微镜直接研究其多相体系的结构。
  偏光测量显微镜的调节与校正:
  选择并装配物镜和目镜:按需要选择物镜和目镜,在安装目镜时注意其内十字丝的方向。
  调节照明:打开光源灯,调节变压器旋扭,直到亮度适度为止。
  物镜中心的校正:物台旋转轴、物镜中轴、镜筒中轴、目镜中轴必须保持在一条直线上,偏光显微镜才能正常使用,目前有关物镜中心的校正将由指导教师来完成。
  焦准:将薄片置于物台上,在教师指导下,用粗调或微调调焦至物象清晰。在此过程中,千万注意,物镜前透镜不要与薄片接触,以免打碎薄片或损坏镜头。
  下偏光镜的检查:下偏光镜的振动为东西向。当黑云母的解理平行下偏光镜的振动方向时颜色最深,据此可以检查、调节下偏光镜的振动方向。
  上偏光镜的检查:移去薄片,视域黑暗,说明上偏光振动方向与下偏光振动方向互相垂直。否则,需要进行调节,调节工作由指导教师来完成。

联系我们

contact us

咨询电话

15321319941

扫一扫,关注我们

返回顶部